- Описание
- Документы
Описание рентгенофлуоресцентного спектрометра серии XUV:
Вакуумная измерительная камера приборов серии XUV® позволяет осуществлять проверку легких материалов из натрия и подобных материалов посредством рентгенофлуоресцентного анализа (RFA). В обычных условиях этот метод использовать невозможно, поскольку воздух помещения может поглощать излучаемую радиацию. По этой причине данный прибор является оптимальным решением для ответственных задач исследования толщины покрытий и анализа материалов.
Характеристики прибора:
- Благодаря высокой чувствительности, высокой степени повторяемости и универсальности измерительных средств приборы этой серии могут применяться в научно-исследовательской сфере
- Приборы оборудованы вакуумной камерой и высокоэффективным дрейфовым кремниевых детектором для повышения точности измерений, в том числе легких элементов
- Приборы позволяют проводить автоматизированное серийное испытание с применением программируемых осей X, Y и Z
- Благодаря возможности применения разных диафрагм и фильтров, приборы можно адаптировать в зависимости от требований разных материалов и условий измерения
Применение:
Измерение толщины покрытия
- Исследование легких материалов из натрия и подобных материалов в нанометровом диапазоне
- Исследование алюминиевых и кремниевых слоев
Анализ материалов:
- Определение подлинности и истории происхождения и владения драгоценных камней
- Общий анализ материалов и экспертиза
- Анализ следов (микропримесей) с высоким разрешением